XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻
特点:
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。
2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、采用单个电池供电，带电池欠压指示
4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配台式探头和特制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6、带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作极其简便。
技术指标
测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度≤5%
探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 MΩ
手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M