CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
产品特色:
■CE 认证合格
■可侦测导磁、非导磁材料
■资料储存支援 255 笔
■可设定 Hi/Lo 警报蜂鸣的读值范围
■选择平均值、最大值、最小值及最大值-最小值
■常用厚度量测点可使用快速一点校正
■两点校正正常操作
■背光显示
■使用者可选择 μm/mils
■自动关机功能
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
一般规格:
显示:31/2 位数字液晶显示,最大 1999 读值。
电池电压不足显示:当电池电压低於操作电压时,
" "显示。
操作环境:0°C至40°C,相对湿度<90%R.H.。
避免有强度磁场的环境。
储存环境:-20°C至60°C,0 至 80%R.H. (电池移除后)。
精确度测试环境:23°C±5°C,相对湿度<75%R.H.。
自动关机:15 秒。
尺寸:148mm(高)x105mm(宽)x42mm(厚)。
CHY-115 涂层测厚仪/膜厚计 CHY115
技术资料:
范围:0 至 40.0mils (0 至 1000μm)
解析度:0.1mils/1μm
回应时间:1 秒
精确度:
±(4位)在0至7.8mils
±(10 位)在 0 至 199μm
±(3%+4 位)在 7.9mils 至 40mils
±(3%+10 位)在 200μm 至 1000μm